취약점 정보

CVE-2018-5210

공개 2018-01-04 (8년 전)최종 수정 2026-06-17NVD 분석 상태 ModifiedNVD 원문 →

악용 여부

CISA KEV 목록에 없습니다. 악용이 없다는 증명이 아니라, 미국 정부가 악용을 확인해 등재한 적이 없다는 뜻입니다.

심각도 (발행처 발표값)

높음8.1

CVSS 버전3.0

평가 기관NVD (미국 NIST)

CVSS:3.0/AV:N/AC:H/PR:N/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H

악용 확률 (EPSS)

EPSS 값을 아직 수집하지 않았습니다.

한국어 공식 권고

이 CVE 를 다룬 KISA 보호나라 권고를 아직 찾지 못했습니다. 권고가 없다는 확증은 아닙니다 — 우리는 RSS 로 공개된 최근 공지만 수집합니다.

국산 제품 관련

삼성전자 단말·가전 키워드 "Samsung" 로 걸림

NVD 키워드 검색 결과이므로 오탐이 있을 수 있습니다.어떤 키워드로 걸렸는지 그대로 밝힙니다.

취약점 설명 (NVD 원문)

On Samsung mobile devices with N(7.x) software and Exynos chipsets, attackers can conduct a Trustlet stack overflow attack for arbitrary TEE code execution, in conjunction with a brute-force attack to discover unlock information (PIN, password, or pattern). The Samsung ID is SVE-2017-10733.

약점 유형(CWE): CWE-787

참조 문서 2건 · 수집 2026-09-04 · 번역하지 않습니다 — 보안 문서의 오역은 조치를 바꿉니다.

이 페이지는 조치 지시가 아닙니다. 영향 범위와 패치 버전은 제품·구성에 따라 다르므로, 반드시 공급사 공식 권고와 NVD 원문의 참조 링크를 확인하세요.